影響到射線(xiàn)檢驗(yàn)結(jié)果的因素有射線(xiàn)源功率、射線(xiàn)底片的性能(粒度、反差等)、不銹鋼反應(yīng)釜幾何不清晰度和由于穿透被檢物體射線(xiàn)的散射和探測(cè)器等其他因素引起的不清晰度，不銹鋼反應(yīng)釜射線(xiàn)照相檢驗(yàn)的可靠性取決于缺陷的類(lèi)型。通常，發(fā)現(xiàn)氣孔、央渣和鎢夾雜物型體積缺院是相當(dāng)容易的。對(duì)裂紋、未熔合和未焊透類(lèi)平面缺陷的顯示與方位有關(guān)，也和開(kāi)裂程度有關(guān)。只有亦缺陷的平面和射線(xiàn)照射方向相重合的情況下，才能在底片上清晰地看瘋平而缺陷。為了可靠地顯示缺陷，它的開(kāi)裂不應(yīng)小于，間相應(yīng)渾件的厚度為10-200mm。
     射線(xiàn)照相檢驗(yàn)的元可懷版的*性是籠在不銹鋼反應(yīng)釜底片、直觀(guān)地顯示出缺陷尺寸和形狀。書(shū)由形式的檢驗(yàn)結(jié)果可以長(zhǎng)期保存，需要時(shí) 記錄缺陷的zui簡(jiǎn)單方法是在磁化零件的表面上放上磁粉，磁粉顆粒與磁力線(xiàn)相互作用聚柒在缺陷區(qū)，這汛就可以明顯地看到稍有不均勻的磁場(chǎng)；磁粉法的檢驗(yàn)過(guò)程包括被不銹鋼反應(yīng)釜檢驗(yàn)零件段的磁化，放置磁粉和目視檢驗(yàn)。在檢驗(yàn)之前應(yīng)小心清理零件表而和去除油脂，表面不應(yīng)有尖的凸出部分，金屬滴和光潔度不低于20Pm。零件磁化后用于法或濕法放上磁機(jī)然后肉眼觀(guān)察磁勒分布情況。在表面和近表面缺陷處磁粉滯留和沉積，顯示出缺陷。
     磁粉法可顯示的缺陷有氣孔、夾渣和分布在近表面或露出表面的裂紋；當(dāng)裂紋的裂口達(dá)5-10Pm、深度20pm、長(zhǎng)度達(dá)0.5Mm以上時(shí)能相當(dāng)好地顯示出來(lái)。表面下的大缺陷，深度小于5mm的也可顯示出來(lái)；在磁力法檢驗(yàn)中，探測(cè)缺陷引起磁場(chǎng)梯度變化的探測(cè)器可以是磁膜(或帶)和磁傳感器鐵探測(cè)器和記錄磁通量變化的其它裝置，不銹鋼反應(yīng)釜渦流檢驗(yàn)方法的基礎(chǔ)是在零件中激發(fā)渦流并分析零件中的缺陷對(duì)渦流探頭和零件組成的系統(tǒng)有關(guān)參數(shù)的影渦流方法餃磁力論復(fù)雜，但它的使用范圍更廣泛且便于自動(dòng)化。
    由于磁力檢驗(yàn)方法比較簡(jiǎn)單而且結(jié)果直觀(guān)，因而得到了泛應(yīng)用，檢驗(yàn)時(shí)不要求農(nóng)高水平的專(zhuān)家、設(shè)備操作也倘單；此法可以檢變零件的發(fā)面缺陷，而導(dǎo)致設(shè)備破壞的裂紋往往都是從麥固開(kāi)始的，不銹鋼反應(yīng)釜磁粉檢驗(yàn)的基本缺點(diǎn)之一是用內(nèi)服觀(guān)察，記錄檢驗(yàn)結(jié)果帶有主觀(guān)性。此外，zui終檢驗(yàn)結(jié)果只能指示缺陷，不能確定其尺寸，只能間接判斷缺陷的大小。